渝企研發(fā)出Micro LED晶圓檢測設備 率先在國內打破終極顯示技術兩大商用瓶頸

　　12月19日，來自重慶中科搖櫓船信息科技有限公司（以下簡稱搖櫓船科技）的消息稱：其研發(fā)的Micro LED晶圓檢測設備，率先在國內打破制約Micro LED顯示技術大規(guī)模商用的其中兩大瓶頸。作為行業(yè)顛覆性創(chuàng)新成果，該設備的問世可加快Micro LED顯示屏量產進程。

　　Micro LED被認為是顛覆產業(yè)的“終極顯示技術”。但自2012年全球首塊Micro LED顯示屏問世以來，因巨量芯片精準轉移難、壞點檢測難等瓶頸，此項技術至今未能大規(guī)模商用。

　　據了解，生產Micro LED顯示屏的過程中，需將小于50微米的數百萬顆Micro LED芯片，從晶圓上依次精準轉移到僅有幾英寸甚至更小的驅動電路基板上進行排布。為確保每顆芯片都完好無缺，轉移前需檢測出有缺陷的芯片。

　　但是，對幾英寸大小晶圓上的數百萬顆芯片進行精準轉移和檢測，難度都極大。再加上其他因素影響，現(xiàn)已問世的Micro LED顯示屏，像素良率較低，觀感不佳，且成本居高不下，企業(yè)和消費者都不堪重負。

　　兩年前，搖櫓船科技攜手國內某顯示面板企業(yè)，利用機器視覺技術研發(fā)Micro LED晶圓檢測設備，在算法開發(fā)方面遇到兩道難關——針對Micro LED芯片的壞點檢測，缺乏缺陷數據；以往業(yè)內通用的芯片轉移的標定方法，不適用于Micro LED芯片。

　　研發(fā)團隊采用異常檢測算法，讓無缺陷樣本去找缺陷芯片，解決了缺陷數據不足的問題，同時，設計了全新的標定板，創(chuàng)新推出適用于Micro LED芯片轉移定位的標定方法，最終于近期研發(fā)出上述設備。

　　經測試，在芯片檢測環(huán)節(jié)，該設備對Micro LED芯片的漏檢率小于0.01%；在芯片轉移環(huán)節(jié)，其能夠引導芯片轉移裝置將芯片轉移精度控制在小于1微米的水平，由此一舉解決制約Micro LED顯示技術大規(guī)模商用的前述兩大瓶頸。

　　據悉，目前在全球，還能做到這一點的只有以色列一家企業(yè)。